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Energy states in GaAs delta-doped field effect transistors under hydrostatic pressure

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dc.contributor 39645 es_ES
dc.contributor 39945 es_ES
dc.contributor.other https://orcid.org/0000-0003-0087-8991
dc.contributor.other https://orcid.org/0000-0002-6232-9958
dc.coverage.spatial Global es_ES
dc.creator Martínez Orozco, Juan Carlos
dc.creator Rodríguez Vargas, Isaac
dc.creator Mora Ramos, Miguel Eduardo
dc.creator Duque, Carlos Alberto
dc.date.accessioned 2021-05-19T15:29:04Z
dc.date.available 2021-05-19T15:29:04Z
dc.date.issued 2008
dc.identifier info:eu-repo/semantics/publishedVersion es_ES
dc.identifier.issn 0026-2692 es_ES
dc.identifier.uri http://ricaxcan.uaz.edu.mx/jspui/handle/20.500.11845/2498
dc.identifier.uri https://doi.org/10.48779/8m13-tt78
dc.description.abstract The study of the electronic structure in GaAs-based delta-doped field effect transistors under applied hydrostatic pressure is presented. A combination of the depletion approximation and the local density Thomas-Fermi theory is used to model the potential energy profile. We present a discussion on the possible effect of the hydrostatic pressure in the formation of high conductivity channels in the system. es_ES
dc.language.iso eng es_ES
dc.publisher Elsevier es_ES
dc.relation https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0026269207002236 es_ES
dc.relation.uri generalPublic es_ES
dc.rights Atribución-NoComercial-CompartirIgual 3.0 Estados Unidos de América *
dc.rights Atribución-NoComercial-CompartirIgual 3.0 Estados Unidos de América *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/us/ *
dc.source Microelectronics Journal Vol. 39, No. 3–4, pp. 648-650 es_ES
dc.subject.classification CIENCIAS FISICO MATEMATICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA [1] es_ES
dc.subject.other Electron states structure es_ES
dc.subject.other GaAs es_ES
dc.subject.other doped field effect transistors es_ES
dc.title Energy states in GaAs delta-doped field effect transistors under hydrostatic pressure es_ES
dc.type info:eu-repo/semantics/article es_ES


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